Специальные системы для оптического измерения
Оптическая измерительная система для тестирования солнечных элементов и оптоэлектронных устройств
Компания SOFN предлагает комплексные решения для измерения квантовой эффективности фотовольтаических элементов. Наша измерительная система серии 7-SCSpec использует принцип, позволяющий настраивать тестирующую систему в соответствии с требованиями пользователей. Система позволяет проводить измерение значения спектрального отклика, отражения, пропускания, а также измерять внутреннюю и внешнюю квантовую эффективность (эффективность преобразования монохроматического падающего фотона в электрон), плотность тока короткого замыкания для различных типов ячеек, включая тонкопленочные солнечные элементы с одинарными переходами, двойными переходами и многопереходными элементами из монокристаллического или поликристаллического кремния.
| Спектральный диапазон | 200-2500 нм (опция) | |
| Интервал сканирования | ≥1 нм (регулируемый) | |
| Режим сканирования | Полностью автоматизированный | |
| Возможность настройки с двумя источниками смещенного света, удобная для тестирования тонкопленочных солнечных элементов с более чем 3 переходами | ||
| Фильтры Bias | Семь элементов, в том числе два коротковолновых (импортных) и четыре длинноволновых. | |
| Повторяемость плотности тока короткого замыкания | < 0.1%-0.5% (показатель варьируется в зависимости от источника света и спектрального диапазона) | |
| Рабочий стол с функцией температурного контроля | Диапазон температуры 5-40 ℃ (± 0.5 ℃) | |
| Метод тестирования | Переменный ток, постоянный ток (опция) | |
| Дополнительно могут устанавливаться три автоматические жалюзи (shutters), каждая из которых управляет основным освещением, а также открывает и закрывает два переключателя поляризации | ||
| Выбор двухрешеточного монохроматора | ||
| Дополнительный мониторинг двойного светового пути | ||
Возникли вопросы? Не проблема! Наша команда поддержки и технические специалисты помогут вам.
