Система измерения спектральной чувствительности детекторов

Измерение спектральной кривой отклика детектора Si в режиме реального времени.

7-DRSpec

Система измерения спектральной чувствительности детекторов

Используется для измерения спектрального отклика и квантовой эффективности детекторов

Детекторы представляют собой оптические преобразователи, изготовленные из материалов, которые обладают фотоэлектрическими эффектами. Учитывая различную избирательность материалов, тестирование спектральных характеристик детекторов играет важную роль при производстве, контроле, применении и исследовании. Наша система измерения позволяет с точностью определить значение спектрального отклика и квантовой эффективности детекторов. Благодаря эффективной и надежной системе измерения SOFN вы сможете повысить производительность и совершать исследовательские проекты.

Запросить расценки

Характеристики

Спектральный диапазон: Варьируется от 200 до 2500 нм
Точность длины волны: ±0.2 нм
Спектральное разрешение: ±0.1 нм
Спектральная пропускная способность: Регулируется в диапазоне от 0,2 до 10 нм
Смещение фототока: Менее 0.04% за час
Повторяемость системы: 1%

Продукция

Оптическая измерительная система для тестирования солнечных элементов и оптоэлектронных устройств

Система измерения спектральной чувствительности детекторов